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電子探針顯微分析儀
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JXA-8530F Plus 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀
2003年日本電子推出了世界首臺(tái)商業(yè)化場(chǎng)發(fā)射電子探針（FE-EPMA），此后被廣泛地應(yīng)用于金屬、材料、地質(zhì)等各個(gè)領(lǐng)域，并獲得了極高的贊譽(yù)。最新研發(fā)的第三代場(chǎng)發(fā)射電子探針JXA-8530F Plus，電子光學(xué)系統(tǒng)有了很大的改進(jìn)，新的軟件能提供更高的通量，并保持著極高的穩(wěn)定性，能實(shí)現(xiàn)更廣泛的EPMA應(yīng)用。
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JXA-8230 電子探針顯微分析儀
可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測(cè)器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
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軟X射線分析譜儀
軟X射線分析譜儀(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度Ｘ射線CCD相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了極高的能量分辨率。和EDS一樣可以并行檢測(cè)，并且能以0.3eV(費(fèi)米邊處Al-L基準(zhǔn))的極高能量分辨率進(jìn)行分析，超過了WDS的能量分辨率。
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JXA-iHP200F 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀
JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí)，追求每個(gè)人都能簡(jiǎn)單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀察分析和操作，是更先進(jìn)的一體化集成FE-EPMA。
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JXA-iSP100 電子探針顯微分析儀
JXA-iSP100在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí)，追求每個(gè)人都能簡(jiǎn)單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀察分析和操作，是更先進(jìn)的一體化EPMA。
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