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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡
JEM-ARM300F實(shí)現(xiàn)了世界最高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器,最高加速電壓可達(dá)300kV,是一款原子級(jí)分辨率電子顯微鏡。實(shí)現(xiàn)了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。
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JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡
以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑,易用性強(qiáng),外觀設(shè)計(jì)精煉,能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗(yàn)。
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JEM-1000 超高壓透射電子顯微鏡
由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長很短,即使增大物鏡極靴之間的間隙,也能獲得高分辨率的圖像。此外,電子束具有很強(qiáng)的穿透能力,即使厚樣品也能觀察到清晰的圖像,這是超高壓透射電子顯微鏡的最大優(yōu)點(diǎn)。
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JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡
JEM-2100Plus電子顯微鏡,不僅擁有信譽(yù)卓著的JEM-2100 的電子光學(xué)系統(tǒng),還增加了最新的控制系統(tǒng),大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JEM-2100Plus性能優(yōu)越,操作方便,簡明易懂,在材料、醫(yī)學(xué)、生物學(xué)等多個(gè)研究領(lǐng)域提供優(yōu)異的解決方案。
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JEM-3200FS 場發(fā)射透射電子顯微鏡
JEM-3200FS場發(fā)射電子顯微鏡配備了最高加速電壓為300kV的場發(fā)射電子槍(FEG)和鏡筒內(nèi)置式Ω型能量過濾器,能為廣泛的研究領(lǐng)域提供各種全新的解決方案。
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EM-05500TGP TEM斷層掃描系統(tǒng)
TEM斷層掃描系統(tǒng)采用獨(dú)特算法的軟件,實(shí)現(xiàn)了從獲取連續(xù)傾斜圖像到三維重構(gòu)整個(gè)過程的自動(dòng)化。
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JED-2300T 能譜儀
JED-2300T AnalysisStation是以“圖像觀察和分析”為基本理念的TEM/EDS集成系統(tǒng)。在分析數(shù)據(jù)過程中,自動(dòng)采集電鏡主機(jī)的倍率、加速電壓等參數(shù),進(jìn)行數(shù)據(jù)管理。
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JEM-1400Flash 透射電子顯微鏡
JEM-1400Flash配備了高靈敏度sCMOS相機(jī)、超廣視野的蒙太奇系統(tǒng)以及光學(xué)顯微鏡圖像的聯(lián)動(dòng)功能,是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射電子顯微鏡。
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JEM-Z200FSC 場發(fā)射冷凍電子顯微鏡
場發(fā)射冷凍電子顯微鏡 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200標(biāo)配冷場發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過濾器(Ω能量過濾器)、液氮冷卻樣品臺(tái)和12位自動(dòng)樣品更換系統(tǒng)。新設(shè)計(jì)的Ω能量過濾器與無孔位相板的完美組合,進(jìn)一步提高了生物樣品的襯度。
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