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多束系統(tǒng)
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JIB-4700F 雙束加工觀察系統(tǒng)
隨著先進(jìn)材料構(gòu)造的微細(xì)化和制造過程的復(fù)雜化,形貌觀察、元素分析和晶體分析等的評(píng)估技術(shù)也對(duì)分辨率和精度有了更高的要求。為了滿足這些需求,JEOL推出新一代雙束加工觀察系統(tǒng)JIB-4700F。 該設(shè)備的SEM鏡筒中采用了超級(jí)混合圓錐形物鏡、GB模式和in-lens檢測(cè)器系統(tǒng),在1kV低加速電壓下,實(shí)現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300nA探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合,可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析。
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JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)配置了高性能的離子鏡筒(單束FIB裝置)。 被加速的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后,能對(duì)樣品表面進(jìn)行SIM觀察 、研磨、及碳和鎢等沉積。還可以為TEM制備薄膜樣品,為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。 該設(shè)備能配置3D觀察功能、自動(dòng)TEM樣品制備功能,能對(duì)應(yīng)多種制樣需求。
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