聯系我們
首頁
關于賽非特
產品信息
透射電子顯微鏡
掃描電子顯微鏡
制樣設備
電子探針顯微分析儀
多束系統
X射線熒光分析儀
核磁共振譜儀
電子自旋共振譜儀
質譜儀
電子束光刻裝置
成模相關機器
材料生成機器
維修耗材
新聞資訊
公司新聞
行業(yè)新聞
聯系我們
EN
網站首頁
關于賽非特
產品信息
透射電子顯微鏡
掃描電子顯微鏡
制樣設備
電子探針顯微分析儀
多束系統
X射線熒光分析儀
核磁共振譜儀
電子自旋共振譜儀
質譜儀
電子束光刻裝置
成模相關機器
材料生成機器
維修耗材
新聞資訊
公司新聞
行業(yè)新聞
聯系我們
首頁
>
關于我們
>
JMS-T200GC 氣相色譜-飛行時間質譜儀
質譜儀
第4代AccuTOF GC 系列產品性能進一步改進, 升級為AccuTOF GCx! 將在更廣泛的領域為您提供分析解決方案。
分享:
MORE VIEW
產品系列
JMS-Q1500GC 氣相色譜-四極桿質譜儀
JMS-Q1500GC 是日本電子新一代氣相色譜-四極桿質譜聯用儀,具有優(yōu)異的性能和更多的四極桿質譜技術優(yōu)勢,適用于眾多應用場合如環(huán)境分析中的農用化學品、霉味分析,材料分析,以及嗅探分析等。
MORE VIEW
JMS-S3000 基質輔助激光解吸電離飛行時間質譜儀
JMS-S3000采用日本電子獨自研發(fā)的SpiralTOF模式離子光學系統,它創(chuàng)新的技術在學術界已廣為人知,其超高的質量分辨率和質量準確度,遙遙領先于傳統的裝置。
MORE VIEW
JMS-T100LP 液相色譜-飛行時間質譜儀
AccuTOF LC 系列的第3代產品AccuTOF LC-plus 4G,設計簡潔,經久耐用,是全能型的大氣壓離子化高分辨率飛行時間質譜儀。它除了采用LC/MS 離子源中最廣為使用的電噴霧離子源外,還配有JEOL 獨有的電離技術DART (Direct Analysis in Real Time) 和冷噴霧離子源 (ColdSpray),能在各個領域提供分析解決方案。
MORE VIEW
DART 實時直接分析離子源
DART(Direct Analysis in Real Time即時直接分析)是無需樣品制備的、能進行快速分析的新型離子源。DART于2003年誕生于日本電子美國公司(JEOL USA, Inc. )的質譜應用實驗室,是敞開式離子化技術中最早被發(fā)明和商品化的電離方法,2005年2月獲得匹茨堡金獎 pittcon Editors Gold Award, 同年9月獲得R&D100大獎。
MORE VIEW
JMS-700 MStation高性能雙聚焦磁質譜儀
JMS-700高分辨質譜儀全部采用電腦控制,離子源和各種參數具有自動調諧功能,不僅是常規(guī)測試,利用高分辨測試等所有模式都能容易地獲得高質量的分析結果。
MORE VIEW
JMS-800D Dioxin(二惡英)分析用高分辨質譜儀
MS-800D UltraFOCUS? 是進行超低濃度分析的最佳選擇,采用高分辨選擇離子監(jiān)測模式(HRSIM)適合二惡英及相關化合物如:二惡英、多氯聯苯(PCB's)、多溴聯苯醚(PBDE'S) 或濫用藥物的分析。
MORE VIEW
Copyright ? 蘇州賽非特電子科技有限公司 版權所有 技術支持:
網站維護
備案號:
蘇ICP備18062909號-1